測(cè)量導(dǎo)向軸的表面粗糙度可以采用多種方法，主要包括接觸式和非接觸式測(cè)量方法，具體選擇取決于精度要求、測(cè)量環(huán)境和成本因素。以下是常用的測(cè)量方法及其適用情況。

1. 觸針式粗糙度測(cè)量?jī)x(接觸式)

●原理

   ○觸針式測(cè)量?jī)x利用精密金剛石探針沿導(dǎo)向軸表面移動(dòng)，記錄表面微觀起伏并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，計(jì)算粗糙度參數(shù)。

●測(cè)量步驟

   ○設(shè)備準(zhǔn)備：選用合適的粗糙度測(cè)量?jī)x，如泰勒霍普森、三豐、馬爾等品牌的儀器。

   ○表面清潔：使用干凈的無塵布或酒精清潔導(dǎo)向軸表面，避免油污或雜質(zhì)影響測(cè)量。

   ○固定測(cè)量?jī)x：確保測(cè)量?jī)x穩(wěn)固放置，觸針垂直于軸表面。

   ○設(shè)定參數(shù)：根據(jù)要求設(shè)定測(cè)量長(zhǎng)度、濾波方式及參考標(biāo)準(zhǔn)(如 Ra、Rz、Rq)。

   ○執(zhí)行測(cè)量：?jiǎn)?dòng)測(cè)量?jī)x，觸針沿導(dǎo)向軸表面滑動(dòng)并記錄數(shù)據(jù)。

   ○數(shù)據(jù)讀?。簻y(cè)量?jī)x自動(dòng)計(jì)算 Ra、Rz、Rq 等粗糙度值，并在顯示屏上輸出結(jié)果。

●適用范圍

   ○適用于 Ra 0.05~10 μm 范圍的導(dǎo)向軸測(cè)量。

   ○適用于精密加工和高要求表面，如高精度導(dǎo)向軸、直線軸承導(dǎo)軌。

2. 白光干涉顯微鏡(非接觸式)

●原理

   ○利用白光干涉原理，通過光束干涉產(chǎn)生表面三維形貌圖，測(cè)量表面粗糙度。

●測(cè)量步驟

   ○清潔導(dǎo)向軸表面，避免油污影響光反射。

   ○將導(dǎo)向軸放置在顯微鏡載臺(tái)上，調(diào)整焦距。

   ○調(diào)整測(cè)量參數(shù)(掃描區(qū)域、放大倍率等)。

   ○執(zhí)行掃描測(cè)量，系統(tǒng)自動(dòng)生成表面粗糙度數(shù)據(jù)。

   ○數(shù)據(jù)分析，可得到 Ra、Rz 等參數(shù)，并查看表面3D形貌。

●適用范圍

   ○適用于超高精度測(cè)量(Ra 0.005~1 μm)。

   ○適用于微觀表面分析，如超精密研磨導(dǎo)向軸。

3. 激光共聚焦顯微鏡(非接觸式)

●原理

   ○利用激光共聚焦掃描技術(shù)測(cè)量表面微觀形貌，可快速測(cè)量粗糙度。

●測(cè)量步驟

   ○放置導(dǎo)向軸在測(cè)量平臺(tái)上，調(diào)整焦距。

   ○設(shè)定掃描參數(shù)(掃描范圍、測(cè)量模式)。

   ○執(zhí)行測(cè)量，系統(tǒng)自動(dòng)采集數(shù)據(jù)并計(jì)算粗糙度參數(shù)。

   ○查看3D表面形貌，分析粗糙度值。

●適用范圍

   ○適用于 Ra 0.01~5 μm。

   ○適用于精密加工和表面微觀結(jié)構(gòu)分析。

4. 比較法(樣塊比對(duì)法)

●原理

   ○使用已知粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)樣塊，通過目測(cè)或觸摸對(duì)比導(dǎo)向軸表面，判斷粗糙度范圍。

●測(cè)量步驟

   ○準(zhǔn)備粗糙度樣塊(按照ISO、JIS、ANSI等標(biāo)準(zhǔn))。

   ○清潔導(dǎo)向軸表面，避免誤判。

   ○用手指觸摸導(dǎo)向軸表面，與樣塊進(jìn)行比對(duì)。

   ○使用放大鏡或顯微鏡輔助觀察。

●適用范圍

   ○適用于 Ra 0.8~6.3 μm 的快速檢測(cè)。

   ○適用于車間現(xiàn)場(chǎng)檢查，但精度較低。

5. 光切顯微鏡(光學(xué)測(cè)量)

●原理

   ○利用光學(xué)投影原理，測(cè)量導(dǎo)向軸表面的高度變化，從而計(jì)算粗糙度。

●測(cè)量步驟

   ○調(diào)整光切顯微鏡光源，使光束投射到導(dǎo)向軸表面。

   ○觀察投影圖像，分析表面微觀形貌。

   ○計(jì)算粗糙度參數(shù)。

●適用范圍

   ○適用于 Ra 0.1~3.2 μm。

   ○適用于現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)，精度適中。

結(jié)論

●普通導(dǎo)向軸(Ra 0.8~1.6 μm) 可使用觸針式測(cè)量?jī)x、樣塊比對(duì)法或光切顯微鏡。

●精密導(dǎo)向軸(Ra 0.2~0.8 μm) 推薦使用觸針式測(cè)量?jī)x或激光共聚焦顯微鏡。

●超精密導(dǎo)向軸(Ra 0.05~0.2 μm) 最好使用白光干涉顯微鏡或激光共聚焦顯微鏡。

根據(jù)導(dǎo)向軸的精度要求，選擇合適的測(cè)量方法，以確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。本文內(nèi)容是上隆自動(dòng)化零件商城對(duì)“導(dǎo)向軸”產(chǎn)品知識(shí)基礎(chǔ)介紹的整理介紹，希望幫助各行業(yè)用戶加深對(duì)產(chǎn)品的了解，更好地選擇符合企業(yè)需求的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，解決產(chǎn)品選型中遇到的困擾，如有其他的疑問也可免費(fèi)咨詢上隆自動(dòng)化零件商城?！瘛?/span>